• 下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
• 電制冷Si-PIN探測(cè)器：信噪比增強(qiáng)器
• 型號(hào)規(guī)格：外觀尺寸： 550×416×333mm
• 分析含量：1ppm到99.99％
• 電源：交流220V±5V建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
• 能量分辨率：160±5eV
• 重量：45Kg
• 多次測(cè)量重復(fù)性：0.1％（含量96％以上）

XRF檢測(cè)儀，ROHS測(cè)試儀，ROHS分析儀天瑞儀器X-ray 方法ROHS檢測(cè)儀：

分析儀器作為樣品分析的重要工具，應(yīng)用的領(lǐng)域十分廣泛。同樣，作為分析化學(xué)工作者，所從事的領(lǐng)域也可以十分廣泛。熟練使用一項(xiàng)或多項(xiàng)分析儀器，能使我們?cè)谌找婕觿〉娜瞬攀袌?chǎng)的激烈競(jìng)爭(zhēng)中占得優(yōu)勢(shì)。如何提高個(gè)人的戰(zhàn)斗經(jīng)驗(yàn)值，怎樣迅速獲得新型分析儀器的芳心，就是你以前沒用過的儀器，我想是我們所需要學(xué)習(xí)的。

X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時(shí)又給出實(shí)際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。

XRF檢測(cè)儀，ROHS測(cè)試儀，ROHS分析儀

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率